控制阻抗测试系统
 新CITS900s4 

 
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CITS900s4 — 4通道
单端 
与差分

Polar生产各种专用测试探针，包括这里所示的IPD-100差分型。还可提供新颖的IP-50V可变斜度型，供实验室使用。

设计用于PCB生产环境
特别适合CEM内向检查
测量PCB和试样
符合客户要求的报告
自动数据记录
提高了强耦合线路的精度

选购串音测试设备
利用Speedstack生成CITS测试计划

PCB线路的特征阻抗由线路尺寸和PCB材料特性决定——可能每一批都不一样。为了控制线路阻抗，PCB制造商通常要改变线路宽度，补偿不同批次的PCB材料存在的差异。过去要用时域反射仪(TDR)等专业实验室设备测量在电路板或试样上蚀刻出来的典型线路的特性。这种方法很复杂，成本很高，不适合在生产环境下使用。

如今许多电子设计师（尤其是那些国防/航天、通信和IT行业挑战性能极限的设计师）正在努力让控制阻抗PCB技术大步向前买进，他们用差分信号和平衡线路提高抗扰度，减少高速互连装置定时错误。对于为这些快速增长的电子行业服务的PCB制造商来说，现在很容易确定这些平衡线路的差分阻抗。

易于使用

CITS阻抗测试系统使用起来极为简单方便。基于Windows的强大软件使所有测试任务实现自动化，单击一下鼠标或踩一下脚踏开关即可控制整个过程。你只需确定微带测试探针的位置，选择一个包含常规PCB测试阻抗和公差的测试文件，然后踩脚踏开关即可。不需要像复杂的TDR测量那样进行任何调节，例如设置垂直增益值、脉冲延时值和时基值。未取得最大产能，CITS可以自动执行一系列阻抗测试，必要时提示你重新确定测试探针的位置。

测试结果一目了然 — CITS自动处理数据，清楚显示随距离而变的特征阻抗，给出通过/失败状态。

自动数据记录功能让你能够将测试结果（连同系统设置数据和测量标准）导出到多种第三方数据库或电子表格软件包，进行实时统计过程控制。还可以通过仪器背板上的光隔离信号使用每次测试的通过/失败状态，便于与其他工厂自动化设备集成在一起。

可跟踪测量活动

可跟踪测量精度进一步完善了CITS操作上的简单方便性。此外，QA专家可任意指定复杂的测量参数，例如传播速度和损耗补偿，以及通过/失败限值、结果处理和数据记录等标准测试功能。

你可以打印测试结果，以便给客户提供合规报告，将数据存储在磁盘上供归档或进一步分析之用，或者导出数据供实时SPC之用。选购数据记录报告生成器(DRG)支持多种标准表单，用于简化报告操作。作为选购项目，还可供应条形码阅读器，它让你能够在测试过程中扫描PCB识别标签，从而缩短处理时间，根除错误。

设计与过程控制

在考虑开始阻抗控制生产时，你还会发现Polar Si8000m控制阻抗设计系统有助你根据自己的生产工艺定制客户设计。还有助于一线团队优化输入数据，最大限度地提高控制阻抗PCB产量。 利用CITS和Si8000m，将你你带来一套完整的阻抗测试与过程控制解决方案。

自动生成测试计划

Speedstack多层电路板设计软件可以根据控制阻抗层叠，直接导出CITS900s4测试计划。