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Applikationsschriften ~ Impedanzkontrollierte Leiterplatten

Haben Sie Anregungen für neue Applikationsschriften? - Senden Sie diese bitte an  Hermann.Reischer@polarinstruments.com 

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Was gibt es Neues...
AP8155 Der Einfluss der Oberflächen-Rauheit von Leiterbahnen auf die Dämpfung

Leiterplattenentwickler und -Hersteller müssen zunehmend den Einfluss der Oberflächenrauheit auf die Leitungsdämpfung berücksichtigen. Ab Version 9.01 kann die Si9000e nun auch die Oberflächenbeschaffenheit bei frequenzabhängigen Berechnungen einbeziehen. Somit können dielektrische Verluste und Leitungsdämpfung inklusive Einfluss der Oberfläche berechnet und grafische dargestellt werden. 
1. Einführung in kontrollierte Impedanzen

2. Praktische Information über kontrollierte Impedanzen

3. Theorie zu kontrollierten Impedanzen

4. Anwendung der Si6000b

5. Anwendung der Si8000m

6. Si6000 EXCEL Arbeitsmappen Beispiele

7. Anwendung des CITS500s

Sind kontrollierte Impedanzen neu für Sie?                         Dann sollten Sie zuerst diese informative Broschüre lesen...
LIT145
Vers. 2
Eine Einführung in impedanzkontrollierte Leiterplatten
Adobe PDF (586k) Ideal für Farbausdruck oder Bildschirmanzeige
1. Einführung in kontrollierte Impedanzen

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AP166
v2.0
Wie wird eine Leiterplatte hergestellt und welche Parameter beeinflussen die Impedanz? Download ZipFile.

Version 2 - Neue, aktualisierte Version inklusive Innenlagen- und Laminierungsschritte   
 
Diese Präsentation ist interessant für Sie, wenn Sie grundsätzliche Informationen über den Einfluss der Produktionstechnik auf die Impedanz benötigen. Sie ist auch hilfreich für Techniker und Designer, welche sich einen ersten Einblick in alle Aspekte der Leiterplattenfertigung verschaffen möchten. 
AP149 Test von impedanzkontrollierten Leiterplatten

Der Schlüssel zur Erzielung eines hohen Yields in der Leiterplattenfertigung ist eine enge Zusammenarbeit zwischen Schaltungsentwickler, Layouter und Arbeitsvorbereitung beim Leiterplattenhersteller. Präzise, rückverfolgbare und wiederholbare Testergebnisse sind die Grundlage für die Rückführung von Produktionsdaten in den Fertigungsprozess um die Ausbeute zu erhöhen und die Stückkosten zu senken. 

Sonderdruck des Artikels "The Board Authority - Controlled Impedance Test" aus dem Magazin Circuitree

AP138 Impedanzkontrollierte Leiterplatten, Einführung, PowerPoint Präsentation (keine Elektronikkenntnisse erforderlich)
Zum Download - Rechter Mausklick und Ziel speichern unter...  
AP118 Häufig gestellte Fragen über kontrollierte Impedanzen
AP120 Einführung in kontrollierte Impedanzen
AP121 Konfigurationen von Übertragungsleitungen
AP122 Microstrip Übertragungsleitungen
AP123 Unsymmetrische Stripline Strukturen
AP157 Even-Mode Impedanz - eine Einführung
AP165 Effektives Er - wie sich das effektive Er aus den Einzelmaterialien zusammensetzt (~900kb) Powerpoint Präsentation
2. Praktische Information über kontrollierte Impedanzen

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AP171 Leiterbahnen mit Nickel/Gold-Oberfläche

Obwohl Nickel für kleinere Pads durchaus eine akzeptable Oberfläche darstellt, ist es nicht empfehlenswert, ganze Leiterbahnen mit einer Nickel-Oberfläche zu versehen. Diese Applikationsschrift erklärt den Einfluss einer Nickeloberfläche auf das Hochfrequenzverhalten von Übertragungsleitungen
 

AP200 Der Einfluss der Rückätzung auf die Impedanz von Leiterzügen
AP158 Warum man kritische Leitungen auf Innenlagen legen sollte
AP155 Testen von Übertragungsleitungen bei Betriebsfrequenz - Zeigt ein VNA die gleichen Ergebnisse wie ein TDR?
AP154 Designrichtlinien für RITS520a,RITS510a, RITS500s Leiterplattenträger
AP150 Die 12 wichtigsten Gründe für die Spezifikation des DC-Leiterbahnwiderstandes
AP147 Die Modellierung einer Broadside Coupled Differential Struktur ohne Masse
AP145 Messung des Leiterbahn-Widerstandes
AP144 Berechnung des Leiterbahn-Widerstandes
AP143 Unbalancierte Leitungen und differentielle Impedanzen
AP139 Warum beim Einsatz von glasfaserverstärkten Laminaten die gemessenen Impedanzwerte von Field Solver Ergebnissen abweichen können. 
AP132 Kontrollierte Impedanz - Design for Test  
AP130 Potentielle Fehlerquellen bei der Impedanzmessung  
AP129 Charakterisierung des Fertigungsprozesses  
AP124 Testen von impedanzkontrollierten Boards mittels Testcoupons

Beispiel-Gerberdaten von Mustercoupons —  mpcd1345.zip (170k)
AP117 CITS25 Deaktivierungsprozedur
AP104 Testprozedur für Rambus®  
3. Theorie zu kontrollierten Impedanzen

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AP184
CircuitWorld
"Impedanzmodellierung an Lagenaufbauten mit Mehrfach-Dielektrika", Gaudion, Martyn; Staniforth, J Alan - Circuit World; Volume 30 No. 2; 2004 © Emerald Group Publishing Limited

Dieser Sonderdruck der Magazins Circuit World erklärt die Theorie und Praxis der Berechnung von Übertragungsleitungen in Leiterplatten mit Mehrfachdielektika.
AP148 Paper zur IPC Expo 2002:
Der Einfluss von Rückätzung, Prepreg und Harzfluss auf differentielle Impedanzwerte

Hier Download der Powerpoint-Präsentation
AP135 Berechnung von kontrollierten Impedanzen mit Si6000B von Dr J Alan Staniforth  
AP131 Vortrag "Calculation of PCB Track Impedance" (englisch) 
AP125 Berechnung differentieller und koplanarer Impedanzen auf FR4 
AP174 Die Beeinflussung der Feldverteilung durch die Distanz der Leiterbahn zur Bezugslage

Wenn Leiterbahnen sehr nahe aneinander liegen, so können die Signale auf den beiden Leiterbahnen interferieren. Dieser Effekt wird als Übersprechen bezeichnet. Das Maß des Übersprechens auf eine benachbarte Leitung wird von der Interferenz mit dem benachbarten elektrischen Feld bestimmt. Die Minimierung der Überlappung elektrischer Felder führt zu einer Minimierung des Übersprechens und stellt maximale Signalintegrität sicher.

Diese Applikationsschrift zeigt grafisch, wie eine Verringerung des Abstandes einer Leiterbahn zur Bezugslage den Einflussbereich reduziert. (mehr)

4. Anwendung der Si6000b

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AP162 Reverse Voltage Crosstalk - A discussion of Exact and Approximate Equations
AP164 Modifizierung von Si6000b v2.xx Arbeitsmappen für Verwendung unter Si6000 v3
AP160 Vermeiden von arithmetischen Fehlern bei der Impedanzberechnung mit Si6000
AP161 Vermeiden von arithmetischen Fehlern bei der Impedanzberechnung von differentiellen Strukturen mit Si6000
AP152 Liste der unterstützten Modelle der Si6000b (1.9Mb)
AP151 Kupferdicke, flankengekoppelte Leitungen und charakteristische Impedanz
AP142 Die Modellierung zusätzlicher Strukturen mit Si6000b
AP136 Einführung in die Impedanzberechnung mit Si6000B.        Bilderserie (Geringe Auflösung): AP136_800_600
Bilderserie (Hohe Auflösung):    AP136_1024_768
PowerPoint Präsentation zur Verteilung für Schulungszwecke in Ihrem Unternehmen:
(Rechter Mausklick und Ziel speichern unter...) AP136.ppt
AP134 Ein Beispiel einer Tabellenkalkulation, entwickelt mit Si6000 (erfordert MS Excel)
AP133 Si6000B — Kurzbedienungsanleitung  
5. Anwendung der Si8000m

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AP181 Die Installation der Si8000m Evaluierungsversion

Wir stellen unseren Kunden eine kostenlose, zeitbegrenzte Lizenz des Si8000m Field Solver Impedanzberechnungsprogramms zur Verfügung. Diese Applikationsschrift beschreibt den Installationsprozess der Evaluierungslizenz.
 
AP180 Die Installation der Si8000 — "Node Locked"- Version

Die "Node Locked"-Version der Si8000 erfordert eine Lizenzdatei auf dem selben PC, auf dem sich auch die Si8000m Installation befindet. Diese Applikationsschrift erklärt den Installationsvorgang für die Node Locked Installation, welche an die lokale Ethernet Netzwerkadresse oder an einen USB/Parallel Dongle gebunden ist.
 
AP179

Der Austausch von Impedanz-Parametern zwischen der

SB200 und der Si8000

Die SB200 bietet die Möglichkeit, einzelnen Lagen in einem Lagenaufbau impedanzkontrollierte Strukturen zuzuordnen. Die Verknüpfung der SB200 mit dem Polar Si8000 Controlled Impedance Field Solver liefert Impedanzwerte für eine gewünschte Struktur per Mausklick.

Diese Applikationsschrift beschreibt den Austausch von Impedanz-Daten zwischen der SB200 und der Si8000, um eine impedanzkontrollierte Struktur mit den korrekten Impedanzwerten in den Lagenaufbau einzufügen.
 

AP178

Update der Si8000m mit der Schnittstelle zur
SB200a Professional edition


Die neue SB200a Professional Edition
bietet eine Schnittstelle zur Si8000m Impedanzberechnungssoftware. Beide Anwendungen ergeben zusammen eine leistungsfähige, einheitliche Lösung für das Design und die Dokumentation von komplexen High Speed Leiterplatten-Lagenaufbauten und impedanzkontrollierten Strukturen. 

Um die Verbindung zwischen den beiden Programmpaketen herzustellen, müssen Anwender der Si8000m auf die neueste Version 3.0 oder höher aufrüsten. Die Version 3.xx beinhaltet die Schnittstelle zwischen den beiden Produkten und unterstützt einige zusätzliche impedanzkontrollierte Strukturen für Lagenaufbauten mit Mehrfachdielektrika
 

AP177 Server- und Client-Installation der Si8000m Floating Lizenz

Diese Applikationsschrift beschreibt eine einfache FLEXlm Serverinstallation für Polar Si8000m und für OEM Produkte, welche die Polar Impedanzberechnung als eingebettetes Modul benutzen.
 

AP176 Die Verbesserte Modellierung der Lötstopmaske mit der Si8000m

Diese Applikationsschrift beschreibt die Vorteile der Si8000m Impedanzberechnungssoftware gegenüber der Si6000 bei der Modellierung von Surface Microstrips.
 
AP170 Die Verwendung des Grob- und Feinabgleichs der Si8000m

Der Si8000 Field Solver setzt einen iterativen Zielsuchprozess zur Ermittlung der Leiterbahngeometrien von impedanzkontrollierten Strukturen ein. Diese Applikationsschrift zeigt ein Beispiel, wie der Grob- und Feinabgleich der Si8000 zur Modellierung einer Struktur eingesetzt wird.
 

AP169 Die Verwendung des Si8000m Field Solvers zur Modellierung des Lötstoppmaskenprofils zwischen differentiellen Leiterbahnen.

Leiterplatten werden im Prototypen-Stadium häufig von speziellen Prototypen-Herstellern gefertigt, bevor diese dann an einen Großserienfertiger mit möglicherweise unterschiedlichen Lötstoppmaskenprozessen übergeben werden.  Diese Applikationsschrift beschreibt die Auswirkungen verschiedener Lötstoppmaskenprozesse auf die Impedanz und wie das Lackprofil mit der Polar Si8000m exakt modelliert werden kann.   
 

6. Anwendung der Si8000m

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AP8155 Der Einfluss der Oberflächen-Rauheit von Leiterbahnen auf die Dämpfung

Leiterplattenentwickler und -Hersteller müssen zunehmend den Einfluss der Oberflächenrauheit auf die Leitungsdämpfung berücksichtigen. Ab Version 9.01 kann die Si9000e nun auch die Oberflächenbeschaffenheit bei frequenzabhängigen Berechnungen einbeziehen. Somit können dielektrische Verluste und Leitungsdämpfung inklusive Einfluss der Oberfläche berechnet und grafische dargestellt werden. 
7. Si6000 EXCEL Arbeitsmappen Beispiele

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Die Berechnung des Übersprechens mit der Si6000
Die Modelle für die Berechnung des Übersprechens erfordern die Werte für Zo, Zeven und Zodd (siehe AP162 Übersprechen - exakte Berechnung und Näherungsformeln). Diese Arbeitsmappen demonstrieren, wie die mit Si6000 ermittelten Werte für Zo, Zeven (Zoe) und Zodd (Zoo) eingesetzt werden können, um die Abhängigkeit des Übersprechens vom Leiterbahnabstand zweier differentieller Strukturen - Edge Coupled Surface Microstrip und Edge Coupled Offset Stripline - zu untersuchen.

Laden Sie die beiden nachfolgenden Dateien und extrahieren Sie diese in das Verzeichnis, welches die Datei SI6000Expert.xls enthält. (Normalerweise C:\Programme\Polar\Si6000)

 

SP100 Übersprechen - Edge-coupled Surface Microstrip  
SP101 Übersprechen - Edge-coupled Offset Stripline
8. Anwendung des CITS

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AP156 Verlustbehaftete Leitungen - Wo und wie wird die Verlustkompensation des CITS eingesetzt
AP153 Testen von differentiellen Leitungspaaren ohne Masse (Coplanar Strips)
AP146 IP Impedanzprüfspitzen - Kontaktabstände
AP141 Die korrekte Einstellung der TDR-Testlimits
AP128 Die Wahl der geeigneten IP Microstrip-Probe für die Impedanzmessung  

IP Probe Footprints ( AP146)
AP127 Impedanzmessung an kurzen Leiterbahnen in der Produktion  
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