多くのOEM、CEM、およびPCB加工業者の皆様が、費用および時間の節約という面から最も適したPCB試験方法として、インターコネクト・ストレス試験（IST）を採用しています。ISTは、その他の各種方法と比較して、加速ストレス試験完了までにコストがかからないだけでなく、さらに、組み立て作業、リワーク作業、およびエンドユーザー環境での基盤信頼性における代表的な包括的試験を実現します。このアプリケーション・ノートでは、ISTを客観的に、かつ反復性および再現性のある結果をともなう包括的な試験方法として紹介します。