控制阻抗測試系統
  新版 CITS900s4 

做為一個電路板製造商, 你極有可能正為客戶製作阻抗控制電路板  - 預計在幾年之內，這種電路板將大約有70%的市占率。但是，你要如何去驗証電路板的特性，控制你的生產過程並對客戶展示產品品質合乎要求呢？

 
點擊圖像來看應用示意圖

CITS900s4 - 4頻道
單端及差動

  Polar生産完整系列的特別測試探針， 包括這裡看到的IPD-100差動型。我們也有一種富創意的可變斜度型，一般所稱的IP-50V，供試驗室用。 

為電路板 製造環境而設計
適合於復合基環氧覆銅板（CEM）的進料檢測
測量電路板和測試樣本
顧客標準符合性報告
自動資料存取
准確性增強的密集耦合追蹤
可供選擇的串音測試設備
用Speedstack 產生CITS測試程式

電路板的跡軌特性阻抗決定於 跡軌的尺寸和電路板隨批次而不同的材料性質。爲了控制跡軌的阻抗，電路板的製造者通常是改變跡軌的寬度來補償電路板不同批次的材料。過去，他們不得不使用專家的實驗室設備，諸如時域反射器（time domain reflectometer，TDR）之類的來測量板上代表性蝕刻跡軌或是一個測量 樣本的跡軌。這種做法複雜而昂貴，而且並不適合量產環境。

很多電子設計者—尤其是推動尖端技術的國防/航太業，通訊業和資訊產業—正將電路板的阻抗控制 技術又向前推進了一步。他們用差動訊號和平衡的跡軌來改善每一高頻連接對雜訊的抗擾性以及來降低訊號的時程誤差。目前對從事快速成長電子領域的電路板製造者來説，印證這些平衡跡軌的差動阻抗，已經是輕而易舉的事了。

容易使用

CITS 的阻抗測試系統極易使用。強有力的視窗軟件將測試的全面自動化， 讓全部過程控制在一個簡單的鼠鍵輕擊或脚踏開關之下。您只須將微條探針定好位置， 選擇一個包含有標準電路板 測試阻抗和容許度（容差）的測試檔案，然後壓下脚踏開關即可。無須做傳統式，複雜的TDR測量式的調整，諸如設定垂直擴大增益，設定訊號脉冲時延(delay)和時間的掃描基線值等等。為得到最大的生產能力, CITS 能自動執行一系列的阻抗測試, 並在適當的時候提示您重新定位您的探針。

測試的結果很容易理解. -CITS 自動處理數據，來產生一个毫明確的特性阻抗對距離的關係。而且會提供很明確的 “通過測試/故障“ 狀况的視屏顯示 。

自動數據存取﹐讓測試的結果 –連同系統的數據設定和測量標准 – 很容易地輸出到各类第三者的資料庫，或者是電子試算表包装，來做即時統計製程管制。每一个測試的 “良品/故障“ 狀况也能經由設備後面儀板的光電耦合訊號取得。這使得與其他工厰自動設備整合變得非常方便。

可追踪測量

可追踪的測量准確補足了CITS 的簡化操作。 况且， 品質控制的專家們仍然可以自由指定複雜的測量参數，諸如傳輸速度和損失補償等等. 他們還能指定測試功能的標准，比方説 “良品/故障“ 的界限, 以及對結果的處理和數據的存取及記錄等等。

您可以將列印結果，提供一个給顧客的規格符合報告，將數據存入磁碟片作為存檔，以備將來分析之用。您也可以將結果輸出﹐做即時的 SPC 。 配合廣泛不同的標准表格,，提供多重選擇的資料數據報表產生器（DRG）簡化報告製作。具備條码阅读器，可供您選擇在測試過程中， 將電路板的辨識贴條掃描進去，以縮短操作的時間以及排除可能的誤差。

設計和製程管制

當您考慮开始採用阻抗控制方式的生產時，您會發现Polar Si8000m 阻抗控制設計系統能帮助您將客制設計納入的生產程序當中，對于帮助您的前端團隊將輸入數據最佳化，以達到最大的控制阻抗的生產率，也非常適用。併用  CITS 和 Si8000m 會為您的阻抗測試和製程管制提供一个完整的解决方案。

自動測試程式的產生

Speedstack 多層建構軟體能够直接從阻抗控制建構的層板輸出 CITS900s4 的測試程式。