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Polar
Instruments Applikationsschrift 100 Reduzierung der PFL
Programmier- und Testzeit durch die |
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| Die Pin-für-Pin-Funktion
des PFL Fehlerdiagnosegerätes kann die Programmier- und Testzeit von
speziellen Gehäusebauformen sowie schwer zugänglichen Bauteilen
wesentlich reduzieren.
Automatisierte Fehlerdiagnosesysteme wie die Polar PFL Serie basieren auf dem Prinzip der Analog-Signaturanalyse bzw. In-Circuit-Test und erreichen ihre hohe Prüfgeschwindigkeit durch den Einsatz von speziellen Prüfspitzen und Testclips. Dadurch können ganze Bauteile und Module in kürzester Zeit abgetastet werden. Die breite Auswahl an Testclips und Prüfspitzen ermöglicht den Test innerhalb weniger Sekunden. Verwendung der Pin-für-Pin-Funktion Hohe Bestückungsdichte oder große Bauteile erschweren manchmal die Anwendung der mehrpoligen Standard-prüfspitzen auf mehrpoligen Bauteilen. In diesem Fall ist der Einsatz der einpoligen Prüfspitze die einzige Möglichkeit. Die Pin-für-Pin-Funktion in der Parametereinstellung erlaubt den Test jedes einzelnen Pin´s ohne jedoch einen eigenen Testschritt für jeden Pin zu schreiben.
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Test an Steckerleisten Auf vielen Baugruppen werden Signal- und Steuerleitungen auf Steckerleisten oder SUB-D-Stecker herausgeführt. In der PC-Fertigung sind ISA und PCI-Steckverbinder weit verbreitet. Zum Anschluss an den PFL werden daher Adapterboards eingesetzt. Die PFL-Eingänge werden mit der Steckerleiste verbunden um größere Bereiche einer Baugruppe rasch zu überprüfen. Hierbei wird die Steckerleiste wie ein einzelnes Bauteil betrachtet. Die Standardeinstellungen sind für die meisten Anwendungen passend und so können Baugruppen in kürzester Zeit über die Steckerleisten getestet werden. Mit 128 verfügbaren Kanälen kann in vielen Fällen praktisch das gesamte Board in wenigen Sekunden überprüft werden. Jedem Anschluss der Steckerleiste kann ein Name zugeordnet werden, welcher in der Grafik der Testliste erscheint. |
| Anwendung im
Servicebereich
Sind Baugruppen in ein Gerät eingebaut, können darauf befindliche Bausteine noch schwieriger zu kontaktieren sein. Ein Board installiert unter einer Kabelverdrahtung oder in einem Rack kann eventuell nicht mit einer mehrpoligen Prüfspitze erreicht werden. Das Bauteil oder Modul welches mit einem Standard-Testclip geprüft werden könnte, ist nun nur mittels Einzelprüfspitze kontaktier Separate Tests oder Pin-für-Pin? In jedem Fall kann das Board getestet werden, indem ein Testschritt für jeden Pin geschrieben und jeder Schaltungsknoten einzeln mit der Prüfspitze kontaktiert wird. Dieser zeitaufwendige Vorgang kann jedoch durch die Verwendung der Pin-für-Pin-Funktion verkürzt werden. Dabei wird eine Anzahl von Testpunkten wie ein mehrpoliges Bauteil betrachtet und mit der Einzelprüfspitze sequentiell abgetastet. Die Pin-für-Pin Funktion ist Teil des PFL Menüpunktes Bauteil -Parametereinstellungen - ASA. Klicken Sie die Pin-für-Pin-Box um die Funktion zu aktivieren. Werden nun Signaturen für dieses Bauteil aufgenommen, so erscheint das Pin-für-Pin-Fenster mit der Aufforderung, den ersten Pin zu kontaktieren. Durch Mausklick auf OK oder Druck auf den Fußtaster wird nun zum nächsten Pin geschaltet. Wiederholen Sie diesen Vorgang bis das Bauteil vollständig getestet ist. Test von Spezialbauteilen Der Pin-für-Pin-Test ist auch hilfreich, wenn Bauteilformen vom normalen DIP-Format abweichen. Diese Bauteile werden häufig im Militär- und Forschungsbereich eingesetzt.
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